XE53L
无法访问器械进行测试
Device not accessible for testing
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- 原因调查和调查类型
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- 4 级
定义
不良事件所涉及的实际设备不容易进行测试（例如，仍被植入患者体内）。
The actual device involved in the adverse event is not readily accessible for testing (e.g. remains implanted in patient).
索引词 可用于检索该条目的同义词与别名
- 无法访问器械进行测试
英文词条（1）
- Device not accessible for testing
后组配轴 Postcoordination
该条目未定义后组配轴，直接使用上面的编码即可。后组配是在主干编码之后追加侧别、具体解剖部位、严重程度、病因等细节的可选组合方式，不是必填项。